单晶取向金标样为搭载在金网上的高取向生长的超薄单晶金箔。特别适用于TEM样品阶梯上的高度调整，它可以对TEM的分辨率、成像质量、放大倍率、和高倍下的稳定性参数指标进行校正和检测。
晶面间距：0.102nm、0.143nm、0.204nm
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