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上海上分紫外可见分光光度计UV765CRT

  • 产品编号: HK4868

  • 产品分类:分光光度计

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上海上分紫外可见分光光度计UV765CRT

参数名称        参数值
波长范围   

    190-1100nm

波长允许最大误差   

    ±0.5nm

光谱带宽   

    2nm

波长重复性        ≤0.2nm 
  杂散光        ≤0.05%(τ)(在220nm处,以NaI测定,在360nm处,以NaNO2测定) 
透射比范围        0.0%(T)~200.0%(T) 
吸光度范围        -0.301(A)~3.00(A) 
透射比允许最大误差        ±0.3%(T) 
漂移        ≤0.001A/h 
透射比重复性        ≤0.15%(T) 
基线平直度        ±0.002A 
噪声       100%噪声≤0.15%(T) 0%噪声≤0.10%(T) 

特 点


■ 比例双光束,保证极好的稳定性


■  超低的杂散光,优异的波长精确度


■ 高清晰度大屏幕LCD显示,流畅的人机对话操作


■ 长寿命石英涂膜光学部件


■ 常规测量功能:光度测量、定量测定、光谱扫描、时间扫描


■ 显示和储存各种数据和图谱,支持专用打印机


■ 自动校正功能,确保每次测量数据准确


■ 自动寻找灯源最佳位置,独立灯室,灯源更换简单方便


■ 大样品室,自动8联样品架


 自诊断功能,随时检查仪器状态和性能


 技术指标同UV765,带反控软件



公司网站:http://www.shhk.com.cn

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UV765CRT